1樓：匿名使用者
x射線熒光光譜儀
簡稱xrf，可以測f以後的大多數元素，對金屬元素的測量較非金屬元素來說要相對準確些，而f之前的元素則無法測量，屬於半定量測量，準確定量需要繪製標準曲線
2樓：匿名使用者
絕大多數金屬元素，少量非金屬元素。
3樓：酸豇豆
一般從鈉（11）~鈾（92）之間的元素都可以測試（元素週期表上11~19號元素）
x熒光光譜儀可以測試哪幾種有害物質
4樓：
只要是目前元素表上的元素，都能測。
xenemetrix 推出的一款 rohs vision 能量式x射線熒光光譜儀，專門針對rohs限制元素進行檢測，精度達1ppm,操作簡單，價效比高，感興趣的可以看一下。
5樓：匿名使用者
rohs六項+無鹵素測試+合金分析儀+重金屬檢測 我的空間有我的****，歡迎**交流。
直讀光譜儀和x射線熒光分析儀器有什麼不同？還有其他那些儀器是元素分析的，他們都有什麼區別？
6樓：匿名使用者
直讀光譜儀和x射線熒光均屬於發射光譜，不是你所說的吸收光譜，用小車推的屬於行動式移動光譜儀，是直讀光譜儀的一種。
直讀光譜儀主要分為立式、臺式、移動三種，分析穩定性和精度依次下降。
x射線熒光主要分為波長、能量與行動式三種，分析精度也是按照剛才的順序依次下降，功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、定性分析
元素分析類儀器：原子吸收、icp（等離子體發射光譜儀）、icp-ms（等離子體質譜儀）、gd（輝光放電光譜儀）、gd-ms（輝光放電質譜儀）、直流電弧光譜儀。以上都主要使用者樣品中元素分量的分析，當然這些只是光譜系列的，色譜系類的儀器也可以進行部分元素含量的分析
除了以上儀器，還有一些主用的元素分析儀，例如檢測非金屬中chnso五個元素的元素分析儀、檢測總有機碳的toc分析儀、檢測食品及環境樣品中汞的測汞儀等等
以上所述儀器均為元素總量測定，基本上不能進行元素價態的分析，謝謝！
x射線熒光光譜儀測試時對樣品是否有要求
7樓：匿名使用者
材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為xrf光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。
你的交錯規律排列指的什麼？如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，並且每層的厚度一定（比如第一層高分子都是10微米厚）。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的，但是用x熒光光譜儀測量還是有問題，因為x熒光透過不同物質有無限厚（某元素的x熒光透射不出來的厚度，原因是自吸收）的問題。
這樣誤差看你每層的厚度了，如果每層都很薄，比如幾個微米那麼影響會較小。如果每一層達到幾十比如50微米以上，那麼影響就會較大。
晶體成分沒什麼，只要是均勻分佈就可以，因為即便有分光等現象，也是等概率的，因為是均勻分佈。
8樓：匿名使用者
儀器的工作原理和測試標準決定，x熒光光譜儀對於被測樣品的實質要求並沒有什麼侷限，或許這樣理解比較好，如果為樣品材質較均勻，檢測的精度有可能更好！
同時，因為儀器本身的一些特性決定，輕質元素是比較難測出來的，同時還有干擾等問題的影響，所以，歸總問題應該是您們要測哪些元素，這樣的話，可根據實際待測元素來判定影響和誤差值，進而改善！
x射線熒光光譜儀的原理是什麼？
9樓：匿名使用者
x熒光光譜儀（xrf）由激發源（x射線管）和探測系統構成。x射線管產生入射x射線（一次x射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次x射線，並且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。
探測系統測量這些放射出來的二次x射線的能量及數量。然後，儀器軟體將探測系統所收集到的資訊轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
近年來，x熒光光譜分析在各行業應用範圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在rohs檢測領域應用得最多也最廣泛。 大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析範圍為be到u。並且具有分析速度快、測量範圍寬、干擾小的特點。
優缺點：
優點: a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) x射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關係。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高解析度的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟x射線範圍內，這種效應更為顯著。
波長變化用於化學位的測定 。 c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。
同一試樣可反覆多次測量，結果重現性好。 d) x射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。 e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 缺點： a）難於作絕對分析，故定量分析需要標樣。
b）對輕元素的靈敏度要低一些。 c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
10樓：匿名使用者
就是測量得到物質所激發出的特徵輻射的波長，根據莫塞萊定律，就可以確定出他的原子序數。所以，用於元素成分定性、定量分析。
你說的是老稱呼，現在商品的儀器叫「x射線光電子能譜儀」。
為什麼說元素的x射線熒光光譜具有很強的特徵性
首先要搞清楚元bai素的特徵x熒光 du是指什麼 原子核zhi最內層dao的電子獲得外來能量版後逃逸權,次外層電子要去填補,在這個躍遷過程中,次外層的電子會釋放一部分能量,也就是我們通常所說的元素的x熒光 這種元素的熒光是帶有明顯的特徵性的.這是因為這種熒光光譜與原子結構中的能級密切相關,各種不同原...
如何選擇熒光發射光譜的激發波長,熒光光譜怎麼確定激發波長
以不同波長的入bai射光激發熒光du物質,並在固定波長處zhi測量激發dao出來的熒光強度,然後內以激發波容長為橫座標,熒光強度為縱座標繪製關係曲線,便得到熒光激發光譜,簡稱激發光譜。若固定激發的波長和強度不變,測量不同波長處發射的熒光強度,繪製熒光強度隨發射波長變化的關係曲線,便得到熒光發射光譜,...
直讀光譜儀和X射線熒光分析儀有什麼不同？補充 主要想了解應用
兩者都可以應用bai於鑄造，機du械加工的金屬分析。zhi直讀屬於定量dao分析，以m5000為例專，主要應用於冶金爐前 屬快速定量分析 金屬材料質量監控。手持x射線屬於定性半定量，比如聚光盈安mix5，主要應用於材料分類 合金牌號鑑別 rohs檢測，檢測等 x熒光光譜儀bai xrf 由激發源 x...