1樓：時間而已丶
不屬於結構測試
bist是內建自測試，一般有rambist、flashbist等，它是內部整合專門測試演算法，同時還包括測試控制電路，輸出結果比較等電路，它是晶片中實際電路；
scan是一種結構性測試，它將晶片內部的暫存器替換成專門的暫存器，然後連線成1條鏈或多條，這種方式只需要在輸入端輸入pattern，在輸出端對比輸出即可，它不care晶片功能，可以節省很多測試case開發時間，同時也減少測試時間。
晶片測試 bist屬於結構測試嗎
2樓：時間而已丶
不屬於結構測試
bist是內建自測試，一般有rambist、flashbist等，它是內部整合專門測試演算法，同時還包括測試控制電路，輸出結果比較等電路，它是晶片中實際電路；
scan是一種結構性測試，它將晶片內部的暫存器替換成專門的暫存器，然後連線成1條鏈或多條，這種方式只需要在輸入端輸入pattern，在輸出端對比輸出即可，它不care晶片功能，可以節省很多測試case開發時間，同時也減少測試時間。
3樓：
scan是把暫存器新增一條有別於function的通路，然後把若干暫存器首尾串聯起來，增強時序電路的可控性和可觀測性。
bist是一個專門用於測試的電路模組，能夠直接產生測試激勵和檢測測試響應。
在晶片測試中scan和bist有什麼區別
4樓：匿名使用者
scan是把暫存器新增一條有別於function的通路，然後把若干暫存器首尾串聯起來，增強時序電路的可控性和可觀測性。
bist是一個專門用於測試的電路模組，能夠直接產生測試激勵和檢測測試響應。
ic晶片的測試覆蓋率是怎麼算的
5樓：魚人月行者
首先，要分清測試和驗證的區別。驗證，是用來確認設計的電路符合要求的流程。而測試，是用來確認某一顆晶片是否存在個體缺陷的過程。
驗證過程的覆蓋率統計是基於rtl**的，通常分為**覆蓋率，分支覆蓋率，狀態機覆蓋率等等，以及在此之上針對晶片需求抽象出來的功能覆蓋率。覆蓋率當然是越高越好，這樣缺陷被提前發現的可能性才會高，晶片生產出來的bug就少。驗證用例優化的一個方向也是用最少的用例和時間達到最高的覆蓋率。
如果有某個晶片缺陷沒有被驗證覆蓋到，那麼之後生產出來的每個晶片都會有同樣的問題。
而測試過程的覆蓋率是通過在設計中加入的scan和bist邏輯（所謂dft）實現的，覆蓋率在後端階段有專門的工具進行統計。scan的功能是確認晶片中的暫存器和組合邏輯是否正確。bist是用於確認memory塊有沒有壞點。
所以scan和bist覆蓋率的含義就是晶片中多少百分比的暫存器和邏輯閘被連線到了scan鏈上，多少百分比的memory可以被測試到。在晶片生產時，機臺會將晶片配置到設計好的測試模式下，對暫存器邏輯閘和memory進行掃描，把功能不正常的晶片篩選出去銷燬掉。如果晶片的dft覆蓋不全，就有可能把個別壞的晶片當成好的交給客戶，對客戶造成影響，因此測試覆蓋率都是要儘量提高的。
晶片測試的面臨問題
6樓：人生如夢
此外，測試軟體也面臨著深亞微米工藝和頻率不斷提高所帶來的新的測試問題。過去測試靜態阻塞故障的atpg測試模式已不再適用，在傳統工具上新增功能模式卻難以發現新的故障。較好的方式是，對過去的功能模式組進行分類以判斷哪些故障無法檢測，然後建立atpg模式來捕獲這些遺漏的故障型別。
隨著設計容量的增大以及每個電晶體測試時間的縮短，為了找到與速度相關的問題並驗證電路時序，必須採用同步測試方法。 同步測試必須結合多種故障模型，包括瞬變模型、路徑延遲和iddq。
業界一些公司認為，將阻塞故障、功能性故障以及瞬變/路徑延遲故障結合起來也許是最為有效的測試策略。對深亞微米晶片和高頻率工作方式，瞬變和路徑延遲測試則更為重要。
要解決同步測試核心時的ate精度問題，並降低成本，就必須找到一種新的方法，這種方法能簡化測試裝置的介面 (瞬變和路徑延遲測試要求測試裝置介面處時鐘準確)，同時能保證測試期間訊號有足夠的精確度。
由於soc記憶體塊中極有可能存在製造缺陷，因此儲存器bist必須具備診斷功能，一旦發現問題，存在缺陷的地址單元就可以對映到備用地址單元的冗餘記憶體，檢測出的故障地址將放棄不用，避免捨棄整個昂貴的晶片。
對小型嵌入式記憶體塊進行測試，無需另加閘電路或控制邏輯。例如，向量轉換測試技術可將功能模式轉換為一系列的掃描模式。
與bist方法不同，旁路記憶體塊的功能輸入不需要額外的邏輯電路。由於不需要額外的測試邏輯，soc開發工程師可複用過去形成的測試模式。
高階atpg工具不僅能並行測試巨集而且能夠確定是否存在衝突，以及詳細說明哪些巨集可並行測試，哪些巨集為什麼不可以並行測試。此外，即使巨集時鐘與掃描時鐘相同(如同步儲存器)，這些巨集也可得到有效測試。
哪些儲存器控制器晶片帶有bist
7樓：
bist
[bist]
n. 阿拉伯學者
網 絡阿拉伯學者； 內建自測試； 自測試； 摺疊控制器為你解答，敬，
如果本題還有疑問請追問，good luck!
晶片功能的常用測試手段或方法幾種? 5
8樓：zzx梓
1、軟體的實現
根據「成電之芯」輸入激勵和輸出響應的資料對比要求，編寫了可綜合的verilog**。**的設計完全按照「成電之芯」的時序要求實現。
根據基於可程式設計器件建立測試平臺的設計思想，功能測試平臺的構建方法如下：採用可程式設計邏輯器件進行輸入激勵的產生和輸出響應的處理；採用rom來實現dsp核程式、控制暫存器引數、脈壓係數和濾波係數的儲存；採用sram作為片外快取。
2、 硬體的實現
根據功能測試平臺的實現框圖進行了原理圖和pcb的設計，最後設計完成了一個可對「成電之芯」進行功能測試的系統平臺。
9樓：好可憐地人兒
下面以一種系統晶片的功能測試為例
一、【功能測試平臺的構建】
(本設計的功能測試主要採用基於可程式設計器件建立測試平臺。)
「成電之芯」主要有以下幾類介面：36位的輸入訊號匯流排input，用來為晶片提供初始輸入激勵；32位的初始化資料匯流排initial_bus，用來為晶片提供dsp核程式、控制暫存器引數、脈壓係數和濾波係數；48位的片外快取資料匯流排iq1和iq2，用於將脈衝壓縮的結果傳送到片外快取；28位的求模或取對數輸出匯流排log_out，用於輸出脈衝壓縮或濾波運算後的求模或取對數結果；56位的濾波結果輸出fir_i_out(28位)、fir_q_out(28位)，用於輸出mti或mtd處理後的結果；16位的hd資料匯流排，用於輸出dsp核處理後的結果。
根據基於可程式設計器件建立測試平臺的設計思想，功能測試平臺的構建方法如下：採用可程式設計邏輯器件進行輸入激勵的產生和輸出響應的處理；採用rom來實現dsp核程式、控制暫存器引數、脈壓係數和濾波係數的儲存；採用sram作為片外快取。基本測試框圖如圖3所示。
根據「成電之芯」的要求，晶片需要外部提供136 k 32bit的儲存空間為其提供脈壓係數和濾波係數，同時需要其它的一些儲存空間為晶片儲存片外的dsp核程式和控制暫存器。
由於做mtd濾波時，每個相參處理間隔的資料量最大為2m深度，所以片外必須準備兩片深度為2m，資料寬度為48位的sram作為晶片的片外快取。
除此之外，晶片需要外界輸入資料和控制訊號，並且需要接收晶片的輸出資料。這部分的功能可通過可程式設計邏輯器件來完成。
通過以上分析，c***p晶片功能測試平臺選用了兩片sst39vf3201來做它的片外初始化儲存器、6片gs832018來做它的片外快取、一片xc3s5000來產生它的時序控制訊號以及和外部介面的控制邏輯、兩片mt48lc4m32用做它的輸出快取、兩片sst39vf3201來做它的輸入資料儲存器，另外還選用了一個ad和一個da晶片來實現與外界的資料通訊。實現框圖如圖4所示。
二、【 測試平臺的實現】
1軟體的實現
根據「成電之芯」輸入激勵和輸出響應的資料對比要求，編寫了可綜合的verilog**。**的設計完全按照「成電之芯」的時序要求實現。
2 硬體的實現
根據功能測試平臺的實現框圖進行了原理圖和pcb的設計，最後設計完成了一個可對「成電之芯」進行功能測試的系統平臺。實物圖如圖5所示。
10樓：匿名使用者
手動，或是量大用裝置
誰能幫忙簡單解釋一下中國移動終端通訊類晶片認證測試、中國移動終端入庫測試是怎麼一回事兒麼？ 30
11樓：匿名使用者
3g網路：國際電信聯盟(itu)確定3g通訊的三大主流無線介面標準分別是w-cdma(寬頻分碼多重存取)、cdma2000(多載波長分波多工擴頻調製)和tds-cdma(時分同步分碼多重進接接入)。其中w-cdma標準主要起源於歐洲和日本的早期第三代無線研究活動，該系統在現有的g**網路上進行使用，對於系統提供商而言可以較輕易地過渡，該標準的主要支持者有歐洲、日本、韓國。
去年底，美國的at&t移 動業務分公司也宣佈選取wcdma為自己的第三代業務平臺。cdma2000系統主要是由美國高通北美公司為主導提出的，它的建設成本相對比較低廉，主要支持者包括日本、韓國和北美等地區和國家。td-scdma標準是由中國第一次提出並在此無線傳輸技術(rtt)的基礎上與國際合作，完成了td-scdma標準，成為cdma tdd標準的一員的，這是中國行動通訊界的一次創舉，也是中國對第三代移 動通訊發展的貢獻。
在與歐洲、美國各自提出的3g標準的競爭中，中國提出的td-scdma已正式成為全球3g標準之一，這標誌著中國在行動通訊領域已經進入世界領先之列。答案補充 3g的三種制式標準 td-scdma：全稱time division - synchronous cdma(時分同步cdma)，該標準是由中國提出的3g標準。
特點：在頻譜利用率、對業務支援具有靈活性等獨特優勢。上網速度是cdma1x的四倍，可以自由在t網和g網轉換。
wcdma：也稱為wcdma，全稱為wideband cdma，也稱為cdma direct spread，意為寬頻分碼多重存取，這是基於g**網發展出來的3g技術規範，是歐洲提出的寬頻cdma技術。 特點：
有較高的擴頻增益，發展空間較大，全球漫遊能力最強，但技術成熟性一般。 cdma2000：cdma2000是由窄帶cdma(cdma is95)技術發展而來的寬頻cdma技術，也稱為cdma multi-carrier，由美國高通北美公司為主導提出，韓國現在成為該標準的主導者。
特點：可以從原有的cdmaone結構直接升級到3g，建設成本低廉。
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