怎樣用xrd來區分晶型相同的物質

1樓：扶朕起來吃雞

首先說xrd的原理：

依據x射線對不同晶體產生不同的衍射效應來鑑定物相。任何結晶物質都有其特定的化學組成和結構引數。當x射線通過晶體時，產生特定的衍射圖譜，對應一系列特定的面間距d 和相對強度i/i1值。

其中d與晶胞形狀和大小有關，i/i1 與質點的種類和位置有關。任何一種結晶物質的衍射資料面間距d和相對強度i/i1值是其晶體結構的必然反映。不同物質混在一起時，它們各自的衍射資料將同時出現，互不干擾地疊加在一起。

因此，可根據各自的衍射資料來鑑定各種不同的物相，這就是xrd物相分析原理。

再回答你的問題：如果你測量的物質的晶型相同，物質純度也相同，那麼你不能通過xrd區分它們，因為在xrd圖譜上，它們完全一致，衍射峰具有相同的強度而且出現在相同的地方。如果你測量的物質，它們的純度是不同的，只是晶型相同，那麼可以從xrd上看出區別，除了看出雜散峰不同外，衍射峰的半高寬也會有所不同。

同時附帶一句，xrd不能用於測量樣品純度，只有你提前把待測物質的純度測定好，然後進行xrd測試才是有意義的。純度越高的物質，xrd圖譜就越接近標準值。

2樓：梅亮星

晶型相同但晶格常數不相同，所以晶面間距不相同，根據布拉格方程就能得出不同的衍射角，以此區分晶型相同的物質。

3樓：匿名使用者

xrd原理大概就是同一晶面上的原子反射的x射線，在某些特定角度干涉形成極大值，角度和晶面間距有關。晶型相同但晶格常數不相同，所以晶面間距不相同，根據布拉格方程就能得出不同的衍射角。在做出來的圖上看就是峰對應的角度不同。

怎樣通過 xrd圖譜判斷被測物質具有某種結晶結構？

4樓：匿名使用者

角度θ為布拉格角或稱為掠射角。關於xrd的測量原理比較複雜，要知道晶體學和x射線知識。簡單的來說（對粉末多晶）：

當單色x射線照射到樣品時，若其中一個晶粒的一組面網（hkl）取向和入射線夾角為θ，滿足衍射條件，則在衍射角2θ（衍射線與入射x射線的延長線的夾角）處產生衍射。

但在實際應用中，我們只需用儀器做出xrd圖譜，然後根據pdf卡片來知道所測物質的種類，和結構。pdf卡片是x射線衍射化學分析聯合會建立的物質的衍射資料庫。他們製備了大量的物質，使用者只要把自己的圖譜和標準圖譜對比就能知道自己的物質種類及結構。

隨著計算機技術的發展，現在都是通過匯入研究者測試得到的xrd圖譜，電腦軟體（如jade）通過匹配度尋找與之比配的pdf卡片，很方便。

在xrd中，不僅可以定性得到物質的種類，相結構。而且可以通過謝樂公式得到晶粒尺寸以及通過精修手段得到晶胞常數。

初學者可以參看馬禮敦編的《近代x射線多晶體衍射》化學工業出版社。劉粵惠，劉平安編《x射線衍射分析原理與應用》化學工業出版社。他們中還有介紹精修的使用，很不錯。